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Composants pour la microélectronique et optoélectronique
Le domaine d’études est celui de la caractérisation des défauts, pour des composants en microélectronique, commerciaux ou de très faibles dimensions. Les études concernent les propriétés des jonctions (paramètres, forte injection, porteurs énergétiques, dégradations), des réponses en commutation et de nano-couches d’oxyde (hystérésis) avec des finalités technologiques, contrôle de qualité, sélection, stabilité et fiabilité de réalisation, mais aussi fondamentales avec les effets d’inter-connection, de couplage électromagnétique.

Une étude particulière des composants silicium pour applications opto-électroniques avec intégration d’une zone de défauts au voisinage d'une jonction, concerne l'émission lumineuse sous actions de contraintes.

 PHOTOPILES 
Dans le domaine de la conversion de l’énergie solaire par des photopiles nous développons simulations et études expérimentales de photopiles intégrant des sous structures de défauts avec puits de porteurs et absorption IR.

Les fonctionnements sous concentration de l'énergie radiative et avec confinement de porteurs sont aussi étudiés et caractérisés.

Notre savoir faire

•  Optimisation des structures et des fonctionnements en conditions réelles

•  Fonctionnement sous concentration d'énergie lumineuse

• Zone de défauts: fonctionnement et absorption IR

•  Analyse des pertes de puissance: origine, vieillissement, phénomènes de recombinaison

• Effets de l'environnement radiatif: dégradation en fonctionnement spatial

• Effets de haute injection: émission de lumière

Last modified: 19/09/09